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HK和SF法推出了由微孔样品 等温吸附线计算有效孔径分布 的半经验分析方法,分别用于 氮/碳(狭缝)及 氩/沸石 (圆柱孔)系统,他们解决了微孔填充压力与孔径的新关系,并未解决孔中氮的分布密度; HK法的一个弱点是,他需要输入吸附剂和吸附质的极化率、磁化系数、表面密度、直径等参数,这些参数的选择对运算结果影响很大,因此不同仪器的结果可能有较大的差别,但这种方法对于微孔孔径分布的测定有了重大的进展并被广泛应用
孔径范围:0.35nm-500nm
比表面范围:0.0001m2/g-无上限
中值孔径重复性(SD):≤0.02nm
比表面重复性(RSD):±1%
孔径范围:0.35nm-500nm
比表面范围:0.0001m2/g-无上限
中值孔径重复性(SD):≤0.02nm
比表面重复性(RSD):±1%
孔径范围:0.35nm-500nm
比表面范围:0.0005m2/g-无上限
中值孔径重复性(标准偏差):≤0.02nm
测试重复性(RSD):±1%